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具備計量功能的日盲紫外成像探測技術
日盲紫外成像探測

日盲紫外譜段位于240~280nm的紫外區,由于大氣平流層中臭氧的強烈吸收,太陽光譜中該譜段輻射無法照射至地表,因此在該譜段探測可天然避免自然界復雜背景干擾,虛警率極低。受限于地表大氣的強烈吸收及散射,日盲紫外成像探測面臨的挑戰在于如何保證“日盲”的同時實現光子計數水平的極微弱信號探測。日盲紫外成像探測技術典型應用包括高壓電力設備絕緣損傷早期探測、工業不可見火焰探測等領域。

日盲紫外探測儀示意圖

本團隊專注于日盲紫外成像探測達10余年,在系統設計、核心元件、信息處理及儀器開發方面具備自主核心技術,研發的紫外電暈探測儀已投入國內市場。目前,積極拓展紫外成像探測技術與可見光、紅外探測技術的融合,在多光譜(通道)成像探測系統研發及應用方面積累了豐富的經驗,可承接各類多光譜成像探測系統的定制、開發。

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